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45MG影響性能和度的因
以下因素會影響儀器的性能和厚度測量的度。
校準
超聲測量的度取決于校準測厚儀時的度與用心程度。45MG儀器出廠時已配有多種探頭和應(yīng)用的標(biāo)準設(shè)置。在某些情況下,應(yīng)根據(jù)不同的測量情祝,優(yōu)化這些設(shè)置。在任何情況卜,一旦要更換被測材料或探頭,就須進行聲速和零位校準。建議使用厚度已知的試塊進行定期核查,以確保測厚儀工作正常。
被測上件的表面粗糙度
如果被測上件的正面和底面都平滑,則可以獲得*測量精度。如.果接觸而很粗糙,則所能測到的zui小厚度值會由于增厚的耦合層中出現(xiàn)聲反響而增大。此外,如果測試工件的正面和底面都很粗糙,則探頭可能會探測到多重具有微弱差別的聲程,從而使回波失真,導(dǎo)致不準確的測量結(jié)果。
耦合技術(shù)
在模式1(接觸式探頭)的測量中,耦合層厚度屬于測量范圍的一部分,并由零位偏移的一部分補償。要獲得zui大精度,耦合技術(shù)一定要可靠穩(wěn)定。使用適當(dāng)?shù)?/span>粘性耦合劑,僅施用足夠獲得可靠讀數(shù)的耦合劑量,并施予探頭穩(wěn)定的壓力,就可獲得穩(wěn)定的測量讀數(shù)。實踐證明,適中到較強的力度可獲取穩(wěn)定一致的讀數(shù)。一般來說,對于小直徑探頭,施予較輕的力度便可擠出多余的耦合劑,而大直徑探頭則需更大的力度達到相同的效果。在所有模式中,傾斜的探頭都會使回波失真,產(chǎn)生不正確的讀數(shù),如下所述。
被測上件的曲率
與此相關(guān)的一個問題是要使探頭與被測上件對直。在曲面上進行測量時,須將探頭置于上件的中心線處,并盡可能使探頭穩(wěn)定地貼附在表面上。在某些情況下,可用一個裝有彈簧的V型試塊支架使探頭保持對直的狀態(tài)。通常而言,當(dāng)曲率半徑降低時,探頭的尺寸也應(yīng)減小,而探頭的對直狀態(tài)則變得更為重要。對于曲率半徑極小的工件,需要使用水浸式測量方法。在某些情況下,觀察波形顯示有助于保持探頭的*對直狀態(tài)口通過觀察波形顯示,操作人員可發(fā)現(xiàn)持握探頭的*方式。在曲面上測量時,必須僅使用足夠獲取讀數(shù)的藕合劑量。多余的耦合劑會在探頭和被測工件之間形成片狀層,造成聲反響,從而產(chǎn)生錯誤信號,觸發(fā)錯誤讀數(shù)。
錐度或偏心
若被測工件的接觸表面和底而相互呈錐度或偏心,回波會由于聲程在波束寬度中的變化而失真。測量精度因此而降低。嚴重情況下,將無法進行測量。
被測材料的聲學(xué)特性
在某些工程材料中,可能會有多個條件限制超聲厚度測量的精度和范圍。
- 聲散射:
在諸如鑄造不銹鋼、鑄鐵、玻璃纖維及復(fù)合材料等材料中,聲能會從鑄件的單個微晶或從玻璃纖維或復(fù)合材料的異種材料交接處發(fā)散,造成聲束散射。任何材料中的孔隙也會產(chǎn)生同樣的效果。為防止探測到這些錯誤的散射回波,需要對儀器的靈敏度進行調(diào)節(jié)。但這種補償也會削弱儀器識別來自材料底面的正確回波的能力,從而限制了測量范圍。
- 聲衰減或聲吸收:
在很多有機材料中,諸如低密度塑料和橡膠中,若使用常規(guī)超聲波厚度測量的頻率,聲能的衰減速度會非??臁_@種衰減通常隨著溫度的升高而增加。因此對于這類材料,可測zui大厚度往往受到聲衰減的限制。
- 聲速變化:
只有在材料聲速與儀器校準的聲速一致的情況下,超聲厚度測量才會準確。在某些材料中,聲速在不同的位置(一點到另一點)會發(fā)生很明顯的變化。這種情況會出現(xiàn)在某些鑄造金屬材料中,因為這些材料的晶粒結(jié)構(gòu)會因不同的冷卻速度發(fā)生變化,而這種變化會使聲速產(chǎn)生各向異性現(xiàn)象。玻璃纖維由于樹脂/纖維比率的變化會產(chǎn)生局部聲速變化。許多塑料和橡膠材料在受到溫度影響時,聲速會急劇發(fā)生變化,因此聲速校準一定要在與測量實際材料時的溫度相同的溫度下進行。
相位顛倒或相位失真
回波信號的相位或極性取決于兩種交界材料的相對聲阻抗(密度/聲速)。45MG儀器基于通常情況進行計算:被測上件的背而介質(zhì)通常是空氣或液體,而空氣和液體的聲阻抗低于金屬、陶瓷或塑料的聲阻抗。但是,在某些特殊情況下,如:金屬表而上覆蓋有玻璃或塑料層,或鋼表面上有銅覆蓋層,阻抗關(guān)系會被顛倒,因此回波便會出現(xiàn)相位顛倒的情況。在這類情況卜,需要改變相關(guān)的回波檢測極性設(shè)置,以便保持測量的性。一些更為復(fù)雜的情況會發(fā)生在各向異性或非勻質(zhì)材料中,如:粗粒金屬鑄件或一些復(fù)介材料,由于材質(zhì)條件,會在聲束區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生多重聲程。在這種情況下,相位失真會生成一個無法清晰界定其極性(正極或負極)的回波。因此,有必要使用參考標(biāo)準試塊仔細進行實驗,以確定對測量性的影響。