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fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。

德國(guó)菲爾希x-ray膜厚測(cè)試儀總代理 FISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線(xiàn)還具備近30年的經(jīng)驗(yàn)，并且仍在不斷的發(fā)展中。確定細(xì)小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測(cè)試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線(xiàn)上在線(xiàn)測(cè)量，

德國(guó)菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測(cè)試儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶(hù)界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。手動(dòng)操作的X-Y工作臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸系統(tǒng)。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以準(zhǔn)確定位測(cè)量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過(guò)程和進(jìn)度。測(cè)量箱底部的開(kāi)槽是專(zhuān)為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)

x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測(cè)量系統(tǒng)擁有良好的多毛細(xì)孔X射線(xiàn)聚焦裝置，既能有效地縮小測(cè)量點(diǎn)的面積，又能大幅加強(qiáng)射線(xiàn)的強(qiáng)度。儀器配備了大面積硅漂移探測(cè)器，特別適用于在小工件上測(cè)量非常薄鍍層的厚度或者進(jìn)行痕量分析。

德國(guó)fischer膜厚儀 X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀 XULM特別適合測(cè)量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線(xiàn)，也可以測(cè)量印刷線(xiàn)路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測(cè)量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測(cè)量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。

Fischer X-RAY XUV773 X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。